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工作原理
仪器采用反射几何θs-θd布局，X射线光束经索拉狭缝、发散狭缝聚焦至样品台。当X射线波长与样品晶面间距满足布拉格定律时，发生衍射现象，信号通过防散射狭缝、接收狭缝后由DPPC探测器捕获。该探测器计数吞吐量≥1×10⁷CPS，可同步提供衍射数据与能量色散光谱信息，支持元素分析。内置CrystalX软件自动完成物相检索与定量分析，无需手动干预。
应用范围
该仪器广泛应用于粉末、块状及薄膜样品的物相定性/定量分析、晶体结构解析及残余应力测定。典型场景包括：矿物成分鉴定、金属合金相分析、药物晶体结构表征、半导体薄膜厚度测量及高温/低温条件下晶体结构变化研究。在锂离子电池材料研发、地质样品分析、陶瓷材料表征等领域，其高精度特性可显著提升分析效率。
产品技术参数
测角仪系统：θ-2θ耦合联动测角仪，衍射圆半径150mm，2θ角度范围-3°至+150°
角度精度：全谱范围内<±0.02°偏差，分辨率<0.04°2θ
X射线管：金属陶瓷管，焦点1×10mm，默认Cu靶（可选Co/Cr/Mo靶），功率600W
探测器：DPPC数字脉冲处理计数器，抑制荧光干扰，峰背比优异
仪器尺寸：580mm×450mm×680mm，重量120kg
电源要求：220V±10V，50Hz，整机功率1000W
扫描速度：0.01°/min至120°/min可调
产品特点
智能化分析：CrystalX软件集成物相自动识别与定量计算功能，操作仅需点击“开始测试”
紧凑设计：内置水循环冷却系统，无需外置冷水机，桌面空间利用率提升30%
安全防护：配备安全联动锁、样品舱关闭提示及自动切断保护装置，辐射剂量<1μSv/h
高稳定性：集成式索拉狭缝设计，无运动部件，测角系统可靠性提升50%
扩展能力：支持选配真空样品舱，提升轻元素检测灵敏度，兼容车载实验室平台
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