全部
▼
308
工作原理
基于布拉格衍射定律（2dsinθ=nλ），仪器通过发射单色X射线照射样品，晶体内部规则排列的原子使X射线产生衍射。探测器捕获衍射光子信号后，结合数据库比对与算法分析，生成衍射图谱并解析材料成分、晶格参数及物相组成。其核心优势在于无需复杂制样，可直接对粉末、块状或薄膜样品进行无损检测，且检测过程不受样品形态限制。
应用范围
地质勘探：快速鉴定岩石矿物种类及含量，辅助矿产资源评估。
环境监测：分析土壤、水体中的重金属污染形态及粘土矿物组成。
材料科学：研究陶瓷、金属、高分子材料的相变过程及结晶度。
考古与文物保护：鉴定文物材质及腐蚀产物，为修复提供科学依据。
工业检测：监测金属腐蚀、水泥水化产物及涂料成分。
产品技术参数
X射线源：微聚焦X射线管，功率10W，阳极靶材可选Cu/Co。
探测器：高灵敏度CCD，分辨率达0.25°，XRF分辨率230eV。
测量范围：2θ角度5°-55°，样品量仅需15-20mg（粒径<150μm）。
尺寸与重量：500mm×400mm×188mm，主机净重15kg，便携性优异。
环境适应性：防水防尘设计，工作温度-10℃至40℃，湿度≤90%。
数据库：内置30000+种矿物标准图谱，支持自动匹配与定量分析。
产品特点
便携性与耐用性：采用一体式防水防尘箱设计，无机械移动部件，适应野外震动、潮湿等恶劣环境。
双模式集成：同步采集XRD与XRF数据，提供物相与元素成分的双重验证，提升检测准确性。
操作便捷性：一键式自动检测，3分钟完成样品制备，支持USB/蓝牙/WIFI无线连接，实时传输数据至笔记本。
智能分析软件：配备CrystalX处理系统，自动扣除背景、校正峰形，生成定性定量报告，降低使用门槛。
安全防护：多重辐射屏蔽设计，表面辐射剂量<0.5mRad/h，符合国家安全标准。
咨询底价
