本发明提供一种
芯片的筛选方法，包括：提供一晶圆，所述晶圆包括多个芯片，各个所述芯片包含多个存储单元；向所述芯片的所有所述存储单元写入数据以设置第一测试背景，并在所述第一测试背景下获取所述芯片的第一测试数据；向所述芯片的所有所述存储单元写入数据以设置第二测试背景，并在所述第二测试背景下获取所述芯片的第二测试数据；基于所述第一测试数据及所述第二测试数据，判断所述芯片是否失效。通过本发明解决了现有的无法通过检验存储单元电压VT最小值方法来筛查不合格芯片的问题。
声明：
“芯片的筛选方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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