本发明提供一种多应力耦合作用下的电子产品寿命评估方法，其步骤如下：1，对各个单一环境应力作用下的电子产品进行寿命仿真，分别仿真各个单一环境应力作用下电子产品的寿命；2，基于灰色关联度的方法进行各个环境应力影响因素灵敏度分析，确定不同应力与失效之间的灵敏度因子；3，建立基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型4，根据本发明中提出的基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型对多应力耦合作用下电子产品的寿命进行评估；通过以上步骤，本发明建立了基于灵敏度因子的非线性累积损伤模型，解决了传统方法在评估多应力下电子产品寿命时无法体现不同应力耦合关系、无法表征不同应力对失效敏感程度的问题。
声明：
“多应力耦合作用下的电子产品寿命评估方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
989
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
