一种用于在可靠性寿命测试中判断组1(一种产品、组件或系统)是否具有比组2更长寿命的方法。该方法无需假设分布的形式,并且其数据分析方法可应用于所有种类的数据和分布。该方法提供了比参数方法更准确的解决方案。在对双峰、早期失效和失效机制预先检查之后,本发明通过非参数方法采用具有良好精确度的数字方法;被测数据可以是经终检、区间或双峰的,并不局限于完全类型的简单情况。本发明可以用于确定所有类型和级别上的可靠性测试的多样性。本发明的方法基于可比性指标来执行确定,可比性指标是通过对被比较的两个组的可靠性函数之间的经加权的差异求积分而导出的。若干指标用于使可靠性可比性有效。其他指标用于使我们的发明更灵活。
声明：
“确定半导体IC可靠性可比性的基于知识的统计方法和系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1180
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
