本发明公开了一种基于有限元仿真的IGBT状态监测方法，其包括以下步骤：S1、获取IGBT模块Vce,on的历史数据；S2、建立键合线退化过程的失效物理模型；S3、建立键合线退化过程的状态空间方程；S4、通过参数学习算法确定Vce,on修正方程的未知量；S5、状态估计。本发明揭示了IGBT模块Vce,on的增加与键合线退化的关系，建立了IGBT模块键合线退化的精确模型，利用基于粒子的边缘重采样移动算法估算出当前裂纹长度，从而进行状态估计。从建立模型到算法实现，不需要进行大量的功率循环试验，与传统状态监测方法相比，降低了时间成本和经济成本，减小了监测误差，提高了IGBT的可靠性。
声明：
“基于有限元仿真的IGBT状态监测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
808
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
