本发明提出了一种内存电压拉偏测试系统，该内存电压拉偏测试系统包括：电源模块、降压转换器模块、PMU模块、内存模块，其中，降压转换器模块，分别与电源模块和内存模块连接，用于将电源模块的输入电压降压转换为第一电压，并且将第一电压输出至内存模块；PMU模块，与降压转换器模块连接，用于调节第一电压。本发明通过PMU模块调节电压转换器的输出电压，从而提高了电压拉偏的精度，也避免了人工重复修改反馈电阻造成的精度不高的问题，同时该测试也提高了内存测试的可靠性和稳定性测试，也避免后期服务器产品因电压问题导致内存失效的情况。
声明：
“内存电压拉偏测试系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1031
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
