本申请公开了一种量产测试方法、系统和存储介质，以实现在量产测试时做到测试数据质量高、良率损失低且测试时间短三者兼顾。该方法包括：获取同一型号不同批次的
芯片的实测参数；基于所述实测参数，分别对各批次进行失效率和良率的联合卡控；对经所述联合卡控筛选出的问题批次进行部件平均测试；根据联合卡控结果和部件平均测试结果输出本次量产测试结果。
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“量产测试方法、系统和存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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来源：北方有色网
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