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工作原理
EDX4500通过内置微型X射线管发射高能X射线，激发样品表面原子内层电子跃迁，释放特征X射线荧光。SDD硅漂移探测器捕获荧光信号后，由多通道分析器解析能量谱线，结合标准数据库比对，定量计算元素种类及含量。设备支持多基体分析模式（如铜基、铁基、铝基），可自动识别材料类型并切换校准曲线，全程无需化学试剂或制样处理，实现无损、快速检测。
应用范围
冶金铸造：黄铜、青铜、紫铜等铜合金的牌号鉴定（如C2600、C3604）及杂质含量分析；
质量控制：金属制品生产过程中的元素含量监控（如Cu、Zn、Sn、Pb、Ni等）；
RoHS检测：电子元器件焊锡、连接器中的铅（Pb）、镉（Cd）等有害元素筛查；
科研教学：材料科学实验中合金成分分析与性能研究。
技术参数
检测元素：Mg-U之间24种元素，覆盖金属材料常规定量需求；
含量范围：1ppm-99.99%（可扩展至100%），检测下限0.001%；
检测时间：10-300秒可调，支持快速筛查与高精度模式；
探测器：SDD硅漂移探测器，分辨率≤140eV；
激发源：4W微型X射线管，电压50kV，电流0-100μA；
显示与操作：7英寸彩色触控屏，支持中英文界面及语音导航；
数据管理：10万组存储，支持USB/蓝牙传输及PC端软件分析；
电源与尺寸：锂电池供电（续航8小时），主机尺寸350mm×280mm×120mm，重量5.5kg；
防护等级：IP54防尘防溅，适应车间、野外等多场景。
产品特点
无损便携检测：30秒内完成铜合金主成分分析，误差≤0.5%，主机重量仅5.5kg；
智能多基体识别：内置100+种合金牌号库，自动匹配校准曲线，操作门槛低；
高精度与稳定性：SDD探测器结合智能温度补偿，长期运行误差≤1%；
安全防护：配备双轴承机械快门、三重辐射防护，通过CE安全认证；
开放生态：支持LIMS系统对接及定制化报告模板，满足ISO/ASTM标准；
售后服务：提供终身免费软件升级、1年质保及上门安装培训服务。
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