本发明揭示了一种基于测试向量乱序和丢弃行为的验证方法，乱序包括调度乱序和流水线乱序，所述验证方法包括：S1，基于测试向量分组法的调度乱序验证过程；S2，基于测试向量特征值的流水线乱序验证过程；S3，基于测试向量特征值的丢弃验证过程。本发明有效地解决了
芯片测试中测试向量乱序和丢弃所引起的记分板比对失效的问题，同时，解决了传统方法中带来的参考模型复杂度高，与DUT过于耦合等问题。
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“基于测试向量乱序和丢弃行为的验证方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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