本发明公开了一种对探针卡在测试过程中防止烧针的方法，每当探针卡移动到一个或一组新的被测
芯片上时，连接在所有被测芯片上的所有测试通道，包括电源电压均设定为低电平，并且打开电源上的去耦电容开关，使之前累积在所有测试通道上的电荷泄放；当一个或一组新的被测芯片在测试程序的某个测试项目上发生了失效时，需要马上将其踢除，亦即所有的测试通道均下电。本发明能提高探针卡的使用寿命。
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来源：北方有色网
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