本实用新型涉及一种防倾斜的集成电路FT测试装置，包含散热座、下压板、测试部件和弹簧；测试部件的下部为测试头，测试部件的上部为导向柱，下压板具有与测试部件配合的限位结构，散热座中具有伸缩空间，测试部件的测试头伸出至下压板的下侧，导向柱进入散热座的伸缩空间；散热座的伸缩空间的顶部具有容纳槽，导向柱的上端与容纳槽配合，散热座的伸缩空间的顶部设置有导向环；弹簧套设在导向柱上，弹簧的上端嵌入导向环中；本方案优化了测试装置的结构，使弹簧上端在导向环的作用下固定，保证pusher和测试插槽位置接触良好，可以有效避免由于接触不好导致的
芯片测试失效，避免造成资源浪费，并提高芯片良品率。
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来源：北方有色网
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