本公开提供一种存储器阵列的测试方法、装置、设备及存储介质，所述测试方法包括：将待测存储器阵列中存储单元的电容其中一个极板电压调整至低电压；按照第一预设方式向所述待测存储器阵列中存储单元存入大于预充电量的电荷；基于预设数据拓扑，将所述预设数据拓扑中数据按照第二预设方式向所述待测存储器阵列执行预设读写操作；向所述待测存储器阵列中存储单元存入大于预充电量的电荷，读取数据；根据读取的数据和第一预设方式写入数据，确定所述待测存储器阵列是否正常。本公开对存入大于预充电量的电荷后的存储器阵列执行预设读写操作，使得存储器阵列中存储单元的电容电压不断变化，提高电容极板漏电失效情况的暴露几率。
声明：
“存储器阵列的测试方法、装置、设备及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1129
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
