本发明提供了一种片上嵌入式Flash的内建自测试结构，包括自定义控制模块、FBIST控制器、ERASE模块和BYPASS模块，当FBIST控制器使能后，FBIST控制器发起操作，依据内部控制器状态机与自定义控制模块和ERASE模块的相互配合，实现对其地址、读写的序列操作和擦除切换，并将读出结果与片上比较器进行测试结果比对，输出结果表征信号，测试结束时，测试完成标识跳高；实现了对FLASH的内部访问以及测试结果比较，外部仅需一个测试启动信号和控制器时钟信号，在测试结束后通过测试完成标志位与测试失效标志位表征测试结果，可以掌握FLASH的失效地址、算法执行状态、读写状态以及输出数据信息，从而为进一步的故障定位提供依据，实现
芯片级或系统级嵌入式FLASH的内建自测试。
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来源：北方有色网
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