本发明公开了一种基于贝叶斯筛选器与重采样的电路的良率预测方法及系统。其中良率预测方法，包括：采用Scrambled Sobol序列对参数域进行预采样得到预采样点；根据预采样点得到初始失效域以及初始非失效域，并构建初始采样分布，将初始失效域作为当前失效域进行迭代运算；迭代运算时根据相应的规则选择当前失效域的采样中心进行重采样，并进行分类器筛选、SPICE仿真得到新的失效域；若当前失效率估计值的品质因数达到收敛标准，则停止迭代输出当前失效率的无偏估计量，否则将新的失效域作为当前失效域继续迭代运算。本发明充分利用预采样获得的信息构建朴素贝叶斯分类器对采样点进行分类筛选，再根据筛选结果决定是否进行后续仿真，使得SPICE仿真次数大幅度减少。
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来源：北方有色网
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