一种基于ATE快速生成存储
芯片修复装置及测试方法，该方法包括将待测存储芯片链接到ATE测试机上；对待测存储芯片发送测试波形，测试出待测存储芯片的失效阵列，将失效阵列的数据存在ATE测试机上；ATE测试机发送信号通过第二通信单元和接口单元将失效阵列的数据发送给外设处理模块的接口单元；运算单元以冗余阵列和失效阵列的数据作为输入条件，运行修复算法以及计算得到修复方案，并控制第二通信单元和运算单元向ATE测试机传输修复方案；ATE测试机根据修复方案通过第一通信单元对待测存储芯片发送修复波形，将标准成品阵列中失效阵列所承担的功能映射到冗余阵列中去完成，以实现待测存储芯片的修复。因此，本发明节省了测试时间和测试成本。
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“基于ATE快速生成存储芯片修复装置及测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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