一种用于非易失性存储器可靠性测试的方法，包括如下步骤：在K个分别 具有Nm个区块的非易失性存储器的每一个中分别选取N个区块；对被选取的 K×N个区块分别执行T次测试程序，得到测试数据；根据测试数据，统计执 行测试程序次数与该次数的测试中累计发生失效的区块数目之间的数据关系 并绘制测试曲线；确定等效失效区块数目判断标准；在测试曲线中读出执行次 数值对应的失效数目；将得到的失效数目与等效失效区块数目判断标准相比 较，判断是否合格。本发明还提供了一种用于非易失性存储器可靠性测试的装 置。本发明的优点在于，所述测试方法和装置在不丧失统计学意义情况下，降 低测试的时间，提高测试效率。
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来源：北方有色网
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