本发明涉及测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质；其中，方法，包括：对待测试的内存进行标识，生成测试数据；对待测试的内存进行读操作，获取读数据；将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存。本发明支持在运行真实应用场景的时候，同时测试相关的SRAM，用于支持检测一些极端环境引发的问题，能够迅速排查是否是SRAM失效引起的，也可以用于工艺角在实际应用场景中可能带来的问题，能够使mbist测试更健壮，实际使用灵活，能够更好地满足需求。
声明：
“测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
769
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
