本发明提供了一种测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法，在阵列基板的非显示区上设置多个测试电路，每个测试电路包括晶体管以及与晶体管并联的光致导通器件，晶体管的栅极与一开关信号相连接，晶体管的第一电极与一数据信号相连接，晶体管的第二电极与所述阵列基板的显示区的某一数据线相连接，光致导通器件的两端分别连接至第一电极与第二电极，通过采用点光源照射光致导通器件，使得晶体管的第一电极与第二电极导通，即数据信号传输至阵列基板显示区域的数据线内，由此判断数据线与显示区内的其他信号线之间是否存在短路，能够快速判断不良失效模式，从而提高了测试效率，节省了测试时间，提高了产品的良率。
声明：
“测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1095
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
