为了解决单片机80C196结构功能复杂而外部引脚有限，导致辐射效应测试难以覆盖单片机80C196所有内部功能模块的技术难题，本发明提供了一种CMOS工艺单片机80C196辐射效应的在线测试系统和方法。首先对待测单片机80C196进行功能模块划分，每个功能模块都有相应的电参数或功能参数进行表征，以监测每个功能模块的工作状态；再通过对各个功能模块的电参数和功能参数的诊断分析，将辐射效应导致的单片机80C196电参数和功能失效定义到单片机的内部功能模块。本发明能够满足单片机80C196辐射效应的测试需求。
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“CMOS工艺单片机80C196辐射效应的在线测试系统和方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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