本发明提出一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法，在测试区L两端设两个固结区，将多个电阻应变片Y
i两端固结在测试对象上；在测试区L范围内，每个电阻应变片Y
i的长度为L
i‑1＜L
i≤L
i‑1(1+δ)（i=2,...,i,...n)，δ表示电阻应变片有效测试应变量程。当第i个电阻应变片Y
i失效时，第i+1个电阻应变片Y
1+1进入测试状态；变形测试数据为应变片Y
i数据叠加Y
i起始点同一时间点的Y
i‑1末端数据，以此类推完成大变形检测。本发明将电阻应变片小变形测试优势拓展到大变形测试领域，能够提高大变形检测精度、拓展大变形检测范围，有很好的应用市场前景。
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来源：北方有色网
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