本发明属于高线性激光器阵列
芯片测试领域，高线性激光器阵列芯片的检测设备由于体积大、投资多，费工时，不能连续测量，自动化程度低，且硬件检测也需要大量代表性样品进行化学分析建模，对小批量的芯片测试不切实际；本发明利用Cadence软件，引入电源电压、差分输入电压、参考电流，温度补偿调制电阻，偏置电流，激光器调制电流，环路失效报警信号，自动功率控制接地模块，搭建了一套方便快捷，显示直观，功能较齐全的智能测试系统，完成高线性激光阵列芯片的各项性能测试，本发明不需要任何硬件设备，能够验证高线性激光器阵列芯片各项性能是否达标。
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“基于Cadence高线性激光器阵列芯片的测试系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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