本发明公开了一种单个开关周期内
芯片动态结温监测系统及监测方法，操作步骤如下：(1)、基于开关特性参数预测PWM周期内关断时刻初始结温，用于获得功率器件在一个开关周期内关断时刻初始结温Tj_off；(2)、基于电热模型估计PWM周期内关断期间的结温变化范围，用于获得功率器件在一个开关周期内关断过程中的结温变化范围ΔTj；(3)、基于热等效作用的估计功率器件在关断期间的最高结温，用于获得功率器件在一个开关周期内关断过程中的最高结温TMAX。本发明聚焦功率开关器件的关断过程，为功率开关器件的失效分析和电‑热管理提供了更精确的动态结温参数，兼顾安全性和经济效益，是芯片结温检测领域的一条新思路。
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“单个开关周期内芯片动态结温监测系统及监测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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