本实用新型提供一种检测电路、阵列基板、显示装置，用于解决现有技术中的检测电路中连接线在过孔之间的爬坡处膜质较差的问题。本实用新型提供的检测电路、阵列基板、显示装置，由于第一过孔和第二过孔距离较远，在制作连接线时，例如，沉积氧化铟
锡(ITO)作为连接线时，ITO爬坡处膜质比较好，有电流通过时，不容易发生ITO烧断的现象，导致检测失效。
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来源：北方有色网
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