本实用新型提供了一种检测电路结构、阵列基板及显示面板，所述检测电路结构包括多个待检测走线和多个信号通入走线，每一信号通入走线上包括断开的至少两个子走线，每一信号通入走线的各子走线之间的断开区域对应有待检测走线，每一信号通入走线上的各子走线之间通过连接线进行连接，各子走线之间的断开区域所对应的待检测走线与连接线之间形成第一重合区域；连接线的两端分别通过第一过孔和第二过孔与信号通入走线连接，并通过第三过孔在第一重合区域与待检测走线连接。上述方案，增加了过孔之间的距离，使得ITO爬坡处膜质比较好，有电流通过时，不容易发生ITO烧断的现象，导致检测失效。
声明：
“检测电路结构、阵列基板及显示面板” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
918
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
