本发明公开了一种电磁铁动作次数寿命检测装置，包括感应通道，MCU电路和继电器；感应通道中的检测通道实施感知被电磁铁动铁芯运动情况，每遮挡或触发一次MCU电路计数一次，校准通道为无遮挡光路或接通电源就能输出信号，每通电一次MCU电路计数一次，二者计数值比较，确定一个测试周期内电磁铁失效的次数，若失效次数大于设定的次数或被检电磁铁动作滞后时间值大于设定的时间值，或总的测试次数大于MCU电路设定的次数时，MCU电路令测试停止。本发明通过比差测试确定失效次数，失效次数和滞后时间界定确认电磁铁寿命，思路巧妙，装置简单，制作成本低廉等优点。
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来源：北方有色网
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