本发明提供一种LED器件性能退化的检测方法及检测系统。一种LED器件性能退化的检测方法，其中，对以恒定电压或恒定电流应力驱动的LED器件，也即老化中的LED器件，在恒定电压或恒定电流基础上引入高频交流小信号，频率大于1MHz，该交流高频小信号的引入不影响LED器件的光谱和空间光强分布；或者，以高频的脉冲电流代替恒定电流驱动LED器件，脉冲电流的有效电流水平记为驱动电流应力水平；然后，采用光电探测器探测LED器件发光，将光信号转化为电信号，进行数据采集，在线或离线分析LED器件的频率响应特性，根据老化中的频率响应特性参数相对于未老化时的变化，判断LED器件中漏电流水平，以有效便捷地检测LED器件的退化，在LED器件失效前进行预警。
声明：
“LED器件性能退化的检测方法及检测系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
882
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
