一种基于SRAM型FPGA敏感因子的功能失效时间评估方法，该方法有四大步骤：步骤一：对SRAM型FPGA的配置网表文件进行解析，采用SelectMAP配置方法，利用可重构技术设计一套遍历式单粒子故障注入方法；步骤二：对FPGA进行功能电路配置，并对搭载有具体功能电路的FPGA实施遍历式故障注入试验；步骤三：收集敏感位数据，利用敏感位数据验证三模冗余设计的效率，并计算功能电路的敏感因子；步骤四：利用敏感因子计算功能电路的功能失效时间。本发明能够对搭载有功能电路的FPGA进行功能失效时间评估，计算功能电路时间参数，提高预测精度和运算效率，为单粒子加固提供数据上的支持，具有较好的可行性和推广价值。
声明：
“基于SRAM型FPGA敏感因子的功能失效时间评估方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1017
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
