本发明提供一种多失效模式下电子产品可靠性指标加速验证方法，该方法通过建立加速因子矩阵，对矩阵进行分析运算，在综合考虑多失效模式以及多应力水平的情况下，确定最优的加速因子用以指导加速试验设计；在此基础上，通过建立加速试验载荷谱，综合利用加速因子、试验时间以及产品的可靠性指标，最终确定合理的试验时间用以验证给定的可靠性指标；相较于传统可靠性验证试验，该方法能够有效缩短试验时间，降低试验费用。
声明：
“多失效模式下电子产品可靠性指标加速验证方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
932
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
