本发明提供一种液晶显示麻点失效的检测方法，其包括以下步骤：步骤一：将外观检验合格的样品进行酸性盐雾试验；步骤二：将经过酸性盐雾试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境试验；步骤三：将经过高温高湿环境试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境及密闭的加压环境组合试验。本发明提供本发明能够快速筛选剔除早期失效品(制造缺陷)，提高液晶重大隐蔽性质量缺陷的筛选不良检出率，降低产线封存返包及售后故障率。
声明：
“液晶显示麻点失效的检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1069
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
