本申请涉及一种失效分析方法、计算机设备和存储介质。失效分析方法包括：获取目标
芯片颗粒内的各IO通道的失效数据，目标芯片颗粒包括m个物理模块，各物理模块包括若干IO通道，m为大于等于2正整数；将失效数据进行拆分，形成对应各物理模块的m组模块失效数据；根据各模块失效数据，判定各物理模块的局部失效类型；根据各物理模块的局部失效类型，判定目标芯片颗粒的存储失效类型。本申请能够有效提高失效分析效率。
声明：
“失效分析方法、计算机设备和存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1039
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
