本发明公开了一种阵列磁体组合式进样装置，使用多个磁体同向组合形成阵列式排布，在相邻两个磁体之间安装样品插片形成多个进样位置。进样装置采用四方框形状的支撑框架结构，磁体和样品插片分别通过磁体孔和插片孔安装到支撑框架中。磁体安装时南极朝着同一个方向排列，相邻磁体之间用连接片相连，确保所有样品同时处于磁场分布较均匀的区域。通过驱动工作台对进样装置进行一维平移操作，即可对安装的所有样品进行批量化测试。本发明的阵列磁体组合式进样装置解决了多个样品磁场同步施加的问题，能够实现批量材料样品在外磁场条件下的微观结构测试，适用于磁性材料无损分析的批量化测试实验环节，避免了复杂操作和频繁换样，提高了测试效率。
声明：
“阵列磁体组合式进样装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1170
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
