本实用新型涉及无损检测技术领域，尤其是一种带有未焊透结构的相控阵检测对比试块，包括试块本体，试块本体为圆环状结构，试块本体的圆环内侧等角度均分设有若干人工缺陷，人工缺陷为机械加工的横通孔结构，若干人工缺陷的横通孔的孔径呈阶梯式递增，试块本体的侧面通过胶接等角度均分固定设有若干标尺，标尺与人工缺陷一一对应，若干人工缺陷距试块本体的侧面平面的距离呈阶梯式递增趋势，标尺上记载有与其相对应的人工缺陷的横通孔的孔径及距试块本体的侧面平面的距离数据。本实用新型结构简单，通用对比性强，具有市场前景，适合推广。
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来源：北方有色网
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