本发明公开了一种使用太赫兹电磁波检测物体的电磁特性的系统及方法，包括信号源，其能够产生相同的发射信号和参考信号，所述发射信号与参考信号为太赫兹电磁波信号；信号发射单元，其位于被测物体一侧，所述发射信号通过信号发射单元朝被测物体发射电磁波，所述信号发射单元为相控阵天线；信号接收单元，其位于被测物体另一侧，所述信号接收单元接收所述相控阵天线发出的电磁波；信号比较单元，其将所述信号接收单元接收的电磁波信号与所述参考信号进行比对，得到两者的幅值比和相位差比，进而获得被测物体的电磁特性。其能够使用太赫兹电磁波检测物体的电磁特性，实现无损检测，精度高，效果好。
声明：
“使用太赫兹电磁波检测物体的电磁特性的系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
978
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
