本发明公开了一种
贵金属制品的快速检测方法，本发明是一种贵金属制品的快速检测方法采用X射线荧光光谱仪检测被测样品表层的主要成分及成分含量初步判断被测样品是否合格，再进一步的利用超声波测厚仪对被测样品进行检测，通过超声波测厚仪发出的超声波脉冲到达被测样品的第一个物质界面并反射回超声波测厚仪所消耗的时间，以计算出被测样品测试点与第一个物质界面之间的厚度值d2，与游标卡尺测得的被测样品的厚度值进行比较，若满足|d2/d1‑1|*100％≤5％，即可判断被测样品合格。本方法可无损、快速、准确、便捷的检测出被测样品是否合格，对于大型检验中心在检验任务较多的情况下，可大大提高工作效率，减低成本。
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来源：北方有色网
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