本发明涉及一种高精度光折变晶体干涉无损探伤设备，包括：分束镜布置在激光器的出射端，且其具有两个出射端；振镜布置在分束镜的其中一个出射端；1/2波片布置在分束镜的另一个出射端；偏振分光镜布置在1/2波片的出射端；第一1/4波片布置在偏振分光镜的出射端；第一场镜布置在第一1/4波片的出射端；光折变晶体布置在偏振分光镜的出射端；反光器件布置在偏振分光镜的出射端；第二1/4波片布置在反光器件的出射端与光折变晶体的入射端之间；光电探测器布置在光折变晶体的出射端；信号处理器分别与激光器、振镜和光电探测器电连接。有益效果是：激光激励和激光干涉仪用同一个光源；设备灵敏度高；能测量粗糙平面的振动信号。
声明：
“高精度光折变晶体干涉无损探伤设备及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
786
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
