本发明一种无损测量纳米光纤直径的装置及方法，属于纳米光纤直径无损测量技术领域；所要解决的技术问题是提供了一种成本低廉、无损测量纳米光纤直径的装置和方法；解决该技术问题采用的技术方案为：一种无损测量纳米光纤直径的装置，包括测试激光器、光纤探针和光电探测器，测试激光器输出的激光依次经过第一普通光纤、第一锥形光纤、纳米光纤、第二锥形光纤和第二普通光纤后进入光电探测器，第一普通光纤、第一锥形光纤、纳米光纤、第二锥形光纤和第二普通光纤为一体成型；光纤探针用于对纳米光纤进行接触或分离，使光电探测器测得光纤探针接触纳米光纤不同位置下的测试激光的光强；本发明可广泛应用于纳米光纤直径测量领域。
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“无损测量纳米光纤直径的装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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