本发明涉及一种
铜铟镓硒薄膜太阳电池电学性能无损检测方法，解决了现有技术中太阳电池电学性能不能无损检测的问题。该方法包括：建立待测太阳电池的等效电路模型；根据设定的待测太阳电池直流偏压范围及步长，在每个直流偏压下，变化待测太阳电池两端交流电压的角频率，利用所述等效电路模型，获取所述太阳电池总电容随所述角频率变化的测试曲线，得到不同直流偏压下的特征频率；根据所述不同直流偏压下的特征频率数据，线性拟合得到直线斜率；根据所述直线斜率和太阳电池参数，获取所述太阳电池的电阻率及迁移率，根据所述电阻率和迁移率得到所述太阳电池的性能状态，实现了太阳电池电学性能的无损检测。
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“铜铟镓硒薄膜太阳电池电学性能无损检测方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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