本发明提供了一种金属多晶体晶粒尺寸无损快速检测的方法,属于X射线检测技术领域。本发明是利用二维X射线探测系统记录相关多晶体晶面指数为不同{hkl}的各种衍射环,对衍射斑强度和强度的平均值进行统计,计算出金属多晶体内不同晶粒尺寸的衍射强度级别与对应的衍射峰数目的分布关系,衍射斑强度的统计值I对应着晶粒尺寸的统计值G,根据G=a+k·I式的线性关系和具体材料回归计算出的a和k常数,计算待测金属多晶体的晶粒尺寸分布和平均晶粒尺寸。本方法解决了传统晶粒尺寸检测方法有损、费时、离线的问题,不仅可以实现无损、快速检测,还可以转化成工业生产所需的晶粒尺寸在线检测新技术。
声明：
“金属多晶体晶粒尺寸无损快速检测的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1081
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
