本发明公开了一种用于放射性样品直接中子照相无损检测的检测装置，包括：中子源、样品台、中子光路传输系统和中子探测系统。所述中子源、所述样品台、所述中子光路传输系统和所述中子探测系统沿着第一方向依次排布设置。通过在样品台和中子探测系统之间设置中子光路传输系统，并可根据检测样品的性质等来设置中子光路传输系统的长度，从而拉长了检测样品和中子探测系统之间的距离，可以极大地降低检测样品的放射性对中子成像探测系统的影响，几乎不会影响中子探测系统的检测成像。如此，本发明的用于放射性样品直接中子照相无损检测的检测装置，可以利用直接中子成像方法针对放射性样品进行中子照相无损检测。
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“用于放射性样品直接中子照相无损检测的检测装置及检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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