本发明属于一种基于发射率光谱指数模型定量反演岩石SiO
2含量的方法，具体包括：一、岩石发射率光谱测量，获取岩石样本发射率曲线；二、岩石样品SiO
2含量室内定量化学分析；三、表征岩石SiO
2含量诊断波长选取和光谱指数构建；四、构建岩石样品SiO
2含量发射率光谱指数定量反演模型；五、岩石样品SiO
2含量定量反演模型精度评价。通过主观和客观评价得出该模型反演精度优于90％，可用于野外快速准确的识别岩石SiO
2含量，大大降低了岩石SiO
2含量室内化学分析的时间和经济成本，这对加快与硅化、石英脉相关的矿产勘查进度具有重要的推动意义。
声明：
“基于发射率光谱指数模型定量反演岩石SiO2含量的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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