本发明涉及一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法，包括：在金属基底上制备固态电解质薄膜，在金属基底上留出空白空间作为测试电极，在固态电解质薄膜上制备顶层金属薄膜作为测试对电极；或在非金属基底上制备底层金属薄膜，在底层金属薄膜上制备固态电解质薄膜，底层金属薄膜留出空白空间作为测试电极，于固态电解质薄膜上制备顶层金属薄膜作为测试对电极。利用
电化学工作站分别以电解质薄膜的上下层金属作为电极与对电极，采用交流阻抗A.C Impedance的测试方法，得到Z’阻抗实部与‑Z’’阻抗虚部的曲线，通过计算得到电解质薄膜的离子电导率。本发明具有测试方法简单、测试效率高即精度高的优点。
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来源：北方有色网
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