一种测定ZSM‑22分子筛中白硅石相含量的X射线衍射方法，包括如下内容：a、将预处理的待测ZSM‑22分子筛样品与硅相标样混合，并且湿法研磨，得待测混合试样；白硅石相标样和相同质量的所述硅相标样混合，并且湿法研磨，得待测混合标样；b、用X射线衍射仪分别测定并收集所述待测混合试样和所述待测混合标样的粉末X射线衍射数据各两套；c、采用X射线衍射数据处理系统软件中的PearsonⅦ化学计量学分峰程序，获得每个试样中白硅石相(101)晶面和硅相(111)晶面峰面积强度计数值并求其平均值，用K值法计算待测ZSM‑22分子筛样品中白硅石相的含量。
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来源：北方有色网
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