本发明公开了一种测定颗粒物分形维数的方法，属于颗粒物检测技术领域，旨在解决现有光学方法测定结果容易受颗粒物折射率及分散相颜色等因素干扰，且在实际应用过程中光室的耐污性较差，即使轻微的污染也会造成较大的测量误差等问题。本发明绕过现有光学方法，用连接有电导电极的商业
电化学阻抗仪测定不同颗粒物浓度的颗粒悬浊液样品的电学特征参数，根据建立的电学参数与颗粒物浓度的无标度模型提取出颗粒物的分形维数。与目前现有方法相比，本发明不受待测颗粒物及分散相的折射率和颜色的影响，且由于没有光路系统，抗杂质污染影响的能力较强，设备维护相对简单，更能适应工业生产运行中的实际使用环境。
声明：
“测定颗粒物分形维数的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
808
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
