本发明涉及化学检测领域，尤其涉及一种表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法；本发明通过对表面镀膜金片进行脱膜前处理，再利用X射线荧光光谱法进行金含量检测；其中脱膜前处理溶胶步骤只针对膜上的胶体反应，对金层无反应，不仅能够快速便捷的将膜与金层分离，且能较大程度的保持金层的完整；脱膜的金片可以便捷进行X射线荧光光谱检测，解决了覆膜带来的测试结果失真问题，而且能准确的测出金质量，均很好的满足了快速、准确、无损耗的检测要求。
声明：
“表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
857
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
