本发明提供了一种具有非抛弃式参比电极结构的
电化学检测
芯片，本发明所述芯片将芯片上参比电极同电化学反应池隔离开来，中间通过金属或非金属条带相连。金属或非金属条带同芯片结构的微纳缝隙进行离子交换以及金属或非金属条带的电位传导的共同作用，维持参比电极的正常工作。利用本发明的技术方案，可以解决常规电化学芯片参比电极测试时直接同待测溶液接触，从而造成电化学检测体系部分受限且参比电极的稳定性较差等问题，本发明所述芯片可以提高芯片上参比电极体系的稳定性，延长了其寿命，使得电化学检测芯片能够适应较长时间的使用。
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“具有非抛弃式参比电极结构的电化学检测芯片” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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