本发明公开了一种航天器器件位移损伤剂量探测方法,属于核技术中的辐射探测技术领域。首先使用辐射源对集成有LED与PD的光电耦合器进行刻度,获得归一化时光电耦合器的电流传输比倒数的增量与位移损伤剂量的响应曲线。然后用地面位移损伤效应测试评估辐射源对光电耦合器进行辐照,获得光电耦合器电流传输比倒数的增量。根据具体辐照时光电耦合器电流传输比倒数的增量,响应曲线中查找出与之对应的位移损伤剂量值,即可探测出此时的位移损伤剂量。本发明克服了通常试验模拟源非理想单能及次级辐射的影响;相比现有的仅用LED做位移损伤探测,测试系统简单实用,消除了光学耦合引入的误差。
声明：
“一种航天器器件位移损伤剂量探测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1018
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
