本发明涉及
芯片生产技术领域，具体公开了一种芯片自动测试系统及芯片测试方法，该芯片自动测试系统包括喂料单元、传输单元、至少一个测试单元以及装料单元；喂料单元用于储存第一容器，且可将第一容器中盛放的芯片转移至传输单元，传输单元将芯片传输至测试单元，测试单元对芯片进行测试作业；装料单元将完成测试作业的芯片装入第二容器。上述设置实现了芯片的全自动化生产，并且通过设置多个测试单元，能够实现单个测试单元进行生产或者多个测试单元同时生产，极大地提高了生产效率，满足了打印耗材芯片的生产需求。
声明：
“一种芯片自动测试系统及芯片测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
869
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
