一种LED降额曲线的测量系统和测量方法，属于半导体光电器件的热学性能检测技术领域。本发明的待测LED、热电偶和夹具置于恒温烤箱内，待测LED和热电偶置于夹具上的同一位置。连接数字源表和待测LED，连接数字万用表和热电偶。分别将数字源表、数字万用表、夹具和恒温烤箱与计算机相连接。数字源表提供驱动待测LED的正向电流；恒温烤箱提供稳定的环境温度；热电偶用于探测待测LED附近的实际环境温度；数字万用表用于巡检热电偶的阻值大小；计算机负责收集、处理相关数据，并向用户输出图形化的降额曲线。同现有技术相比，本发明具有高效、准确、适用范围广泛的优点。
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来源：北方有色网
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