本发明公开了一种低维光电材料的性能测试装置，涉及光电材料检测技术领域，解决了现有装置未设置可以对
多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测的结构的问题。一种低维光电材料的性能测试装置，包括工作台；所述工作台顶部固定连接有控制部；所述工作台顶部右侧固定连接有稳定台，稳定台顶部通过铰连接设置有往复丝杆；所述工作台顶部左侧固定连接有遮光箱，遮光箱内部设置有光电转换性能检测机构；通过控制往复丝杆持续转动，可以控制两组立架进行相反方向的往复平移，可以使多晶硅薄膜进行往复弯折，通过控制部实时监测薄膜电流情况，可以对多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测。
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来源：北方有色网
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